輻射發(fā)射（Radiated Emission，簡稱RE）測試是一種用于評估電子設備通過空間輻射方式向外界發(fā)射電磁干擾的測試方法。該測試旨在確保設備在正常運行時不會對其他電子設備或無線通信系統(tǒng)造成有害干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規(guī)要求。
測試頻率：30MHz~6GHz（部分高頻設備擴展至更高頻率）
目前優(yōu)恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：
傳導發(fā)射（Conducted Emission，簡稱CE）測試是一種用于評估電子設備通過電源線或信號線向電網(wǎng)或其他設備傳導高頻干擾的測試方法。這種測試旨在確保設備在正常工作時不會對公共電網(wǎng)或其他連接設備造成電磁干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規(guī)要求。
測試頻率：150kHz~30MHz
目前優(yōu)恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：
ESD（Electrostatic Discharge）靜電抗擾度測試是用于評估設備在靜電放電干擾下的抗干擾能力的測試方法。這種測試通常用于評估電子設備在靜電放電環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性，以確保其在面對靜電放電時能夠正常工作。
測試能力：接觸放電、空氣放電±30kV
目前我們優(yōu)恩可滿足如下測試標準：
雷擊浪涌測試是一種用于評估設備在雷擊或電涌等電氣干擾情況下的抗干擾能力的測試方法。這種測試通常用于評估電子設備的可靠性和穩(wěn)定性，以確保其在面對突發(fā)的雷擊或電涌時能夠正常工作。
測試能力：
電流波：8/20μs ：150kA、10/350μs：30kA、10/1000μs：300A
電壓波：1.2/50μs：10kV、10/700μs：10kV
目前優(yōu)恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：
電快速瞬變脈沖群抗擾度（Immunity to Electrical Fast Transient/Bursts，簡稱EFT/B）測試是一種用于評估設備在電快速瞬變脈沖群干擾下的抗干擾能力的測試方法。這種測試主要模擬設備在運行過程中可能遇到的開關動作、繼電器觸點彈跳等引起的瞬態(tài)干擾，以確保設備在復雜電磁環(huán)境中能夠穩(wěn)定工作。
測試能力：±4KV
目前優(yōu)恩半導體實驗室可檢測如下測試標準：
在汽車電子領域，電磁兼容性（EMC）測試是非常重要的，因為汽車內(nèi)部裝有許多電子設備，而且汽車在使用過程中會受到各種電磁干擾。汽車電子電磁兼容性（EMC）測試主要包含由傳導和耦合引起的電騷擾和電氣電子設備電氣負荷。
由傳導和耦合引起的電騷擾測試能力：脈沖干擾1、2a、2b、3a、3b、5a、5b
電氣電子設備電氣負荷測試能力：過電壓、疊加交流電壓、反向電壓、啟動特性、供電電壓瞬態(tài)變化
以下是我們優(yōu)恩可滿足的測試標準：
在進行器件檢測時，通常需要考慮到器件的電磁兼容性（EMC）特性以及靜電放電（ESD）等方面的抗擾度。以下是我們優(yōu)恩能提供的一些器件檢測方法：
